印制板及其組件(PCB&PCBA)是電子產(chǎn)品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接決定了電子產(chǎn)品的可靠性。為了保證和提高電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性,對(duì)失效進(jìn)行全面的理化分析,確認(rèn)失效的內(nèi)在機(jī)理,從而有針對(duì)性地提出改善措施。
電子元器件失效分析的目的是借助各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機(jī)理,確認(rèn)最終的失效原因,提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件可靠性。
集成電路復(fù)雜度與性能要求的持續(xù)攀升,疊加設(shè)計(jì)、制造、封裝及應(yīng)用環(huán)節(jié)的潛在風(fēng)險(xiǎn),導(dǎo)致短路、開(kāi)路、漏電、燒毀、參數(shù)漂移等關(guān)鍵失效模式頻發(fā)。這不僅造成昂貴的器件報(bào)廢與系統(tǒng)宕機(jī),更常引發(fā)設(shè)計(jì)方、代工廠、封測(cè)廠與終端用戶(hù)間的責(zé)任爭(zhēng)議,帶來(lái)重大經(jīng)濟(jì)損失與信譽(yù)風(fēng)險(xiǎn)。
高分子材料性能要求持續(xù)提升,而客戶(hù)對(duì)高要求產(chǎn)品及工藝的理解差異,導(dǎo)致斷裂、開(kāi)裂、腐蝕、變色等典型失效頻發(fā),常引發(fā)供應(yīng)商與用戶(hù)間的責(zé)任糾紛及重大經(jīng)濟(jì)損失。
金屬構(gòu)件服役環(huán)境日益苛刻,對(duì)材料性能和結(jié)構(gòu)可靠性提出更高要求。然而,設(shè)計(jì)缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不當(dāng)使用等因素,極易引發(fā)疲勞斷裂、應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂、氫脆、蠕變、磨損、過(guò)載變形等典型失效。
美信檢測(cè)以海量失效數(shù)據(jù)庫(kù)構(gòu)建技術(shù)優(yōu)勢(shì),全譜系案例、復(fù)雜場(chǎng)景方案、頭部企業(yè)合作及體系化知識(shí)產(chǎn)權(quán),各展其能。憑借百萬(wàn)級(jí)失效解析積累,精準(zhǔn)洞察本質(zhì),讓檢測(cè)報(bào)告為客戶(hù)質(zhì)量升級(jí)提供有力支撐,實(shí)現(xiàn)失效歸零。
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FPC焊盤(pán)脫落全案剖析:顯微分析揭示的焊接強(qiáng)度陷阱
發(fā)布時(shí)間: 2025-05-09 00:00
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作為線路板與電子元器件焊接裝聯(lián)的必要媒介,焊盤(pán)的焊接質(zhì)量是影響終端產(chǎn)品壽命與可靠性的重要因素,本文以FPC焊盤(pán)脫落為例,介紹焊盤(pán)脫落的失效分析方法。

某FPC組裝后返修過(guò)程中出現(xiàn)焊盤(pán)脫落問(wèn)題,現(xiàn)針對(duì)2pcs 焊盤(pán)脫落樣品及同批次FPC成品進(jìn)行測(cè)試分析,查找FPC焊盤(pán)脫落的原因。

1.外觀檢查

NG1、NG2樣品在QFN芯片相同角落位置發(fā)現(xiàn)焊盤(pán)脫落現(xiàn)象,其他三個(gè)角落位置焊盤(pán)未見(jiàn)明顯脫落現(xiàn)象,失效現(xiàn)象與委托方反饋信息一致。

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圖1.焊盤(pán)脫落FPC外觀檢查典型照片

2.模擬驗(yàn)證

為了確認(rèn)FPC成品解焊過(guò)程中確實(shí)存在焊盤(pán)脫落異常,從FPC成品中隨機(jī)選取2pcs進(jìn)行解焊處理,結(jié)果發(fā)現(xiàn)樣品存在焊盤(pán)脫落異常(分別命名為樣品1#、樣品2#),結(jié)果如圖2所示。

樣品1#、2#在QFN芯片相同角落位置都發(fā)現(xiàn)焊盤(pán)脫落現(xiàn)象,焊盤(pán)脫落位置與失效樣品表現(xiàn)一致,故FPC成品解焊后確實(shí)存在焊盤(pán)脫落異常。


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圖2.樣品1#、2#脫落焊盤(pán)外觀檢查照片


3.表面分析

 進(jìn)行形貌觀察與成分分析結(jié)果顯示,所有脫落焊盤(pán)脫開(kāi)位置一致,斷口呈現(xiàn)受力變形特征。EDS測(cè)試結(jié)果顯示,斷口位置未發(fā)現(xiàn)明顯異常元素。

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圖3.樣品1#脫落焊盤(pán)位置形貌觀察照片及成分測(cè)試結(jié)果


4.剖面分析

 為了確認(rèn)同批次FPC成品焊盤(pán)是否存在缺陷,從剩余的FPC成品中隨機(jī)選取2pcs樣品進(jìn)行切片分析,結(jié)果發(fā)現(xiàn)2pcs樣品(分別命名為成品1、成品2)焊盤(pán)存在斷開(kāi)異常,結(jié)果如下:

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圖4.成品FPC樣品切片位置示意圖


成品1:如圖5所示,切片后,一引腳焊盤(pán)(圖4黃框位置)明顯發(fā)現(xiàn)斷開(kāi)異常,另一引腳焊點(diǎn)局部開(kāi)裂,斷開(kāi)界面吻合,呈現(xiàn)明顯的受力斷裂特征;斷開(kāi)界面局部存在無(wú)潤(rùn)濕現(xiàn)象,界面潤(rùn)濕不良將導(dǎo)致該界面處焊接強(qiáng)度降低;焊盤(pán)斷口周?chē)~箔完好,鎳層局部發(fā)現(xiàn)微裂紋現(xiàn)象。

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圖5.成品1樣品切片后引腳焊點(diǎn)截面金相觀察照片及SEM+EDS分析結(jié)果


成品2:如圖6所示,切片后,圖4黃框位置引腳同樣發(fā)現(xiàn)斷開(kāi)異常,斷開(kāi)界面吻合,呈現(xiàn)明顯的受力斷裂特征;斷開(kāi)界面局部存在無(wú)潤(rùn)濕現(xiàn)象,界面潤(rùn)濕不良將導(dǎo)致該界面處焊接強(qiáng)度降低;焊盤(pán)斷口周?chē)~箔及鎳層完好,說(shuō)明焊盤(pán)斷開(kāi)異常與焊盤(pán)鎳層微裂紋無(wú)直接相關(guān)性。 

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圖6.成品2樣品切片后引腳焊點(diǎn)截面金相觀察及SEM形貌觀察照片


 以上結(jié)果可知,焊盤(pán)斷開(kāi)原因?yàn)楹更c(diǎn)焊接成型后,QFN焊點(diǎn)受到外力影響,導(dǎo)致焊點(diǎn)沿焊接強(qiáng)度薄弱位置(斷口界面潤(rùn)濕不良位置)斷開(kāi),最終導(dǎo)致焊盤(pán)被連帶拉斷。


5.分析與討論

 本案失效背景為:FPC組裝后返修過(guò)程中出現(xiàn)焊盤(pán)脫落問(wèn)題。

對(duì)焊盤(pán)脫落樣品進(jìn)行外觀檢查發(fā)現(xiàn),焊盤(pán)脫落都發(fā)生在QFN芯片相同角落位置,其他三個(gè)角落位置焊盤(pán)未見(jiàn)明顯焊盤(pán)脫落現(xiàn)象。

為了確認(rèn)QFN器件加熱解焊過(guò)程中,確實(shí)存在焊盤(pán)脫落異常,對(duì)同批次FPC成品借助加熱臺(tái)(設(shè)定250℃)進(jìn)行解焊操作。結(jié)果顯示,個(gè)別FPC成品解焊過(guò)程中,確實(shí)存在焊盤(pán)脫落現(xiàn)象。

對(duì)解焊后焊盤(pán)脫落樣品進(jìn)行形貌觀察及成分分析。結(jié)果顯示,所有脫落焊盤(pán)脫開(kāi)位置一致,斷口呈現(xiàn)受力變形特征,斷開(kāi)位置未發(fā)現(xiàn)明顯異常元素。

為了確認(rèn)同批次FPC成品焊盤(pán)是否存在缺陷,對(duì)成品FPC上QFN引腳焊點(diǎn)進(jìn)行切片分析,結(jié)果顯示:

 ①多個(gè)樣品Q(chēng)FN相同角落位置焊點(diǎn)都發(fā)現(xiàn)斷開(kāi)異常,斷開(kāi)界面吻合,斷開(kāi)位置焊盤(pán)被拉斷,呈現(xiàn)明顯的受力斷裂特征;

②斷開(kāi)界面局部位置存在無(wú)潤(rùn)濕現(xiàn)象,界面潤(rùn)濕不良將導(dǎo)致界面焊接強(qiáng)度降低;

③焊盤(pán)斷口周?chē)~箔完好,個(gè)別脫落焊盤(pán)鎳層局部發(fā)現(xiàn)微裂紋現(xiàn)象,鎳層微裂紋與焊盤(pán)脫落無(wú)明顯相關(guān)性。

 綜上所述,F(xiàn)PC焊盤(pán)斷開(kāi)過(guò)程如圖7所示,QFN器件回流焊接后,引腳焊點(diǎn)局部存在潤(rùn)濕不良現(xiàn)象,導(dǎo)致界面焊接強(qiáng)度降低,在較大外力作用下,焊點(diǎn)沿界面焊接強(qiáng)度薄弱處開(kāi)始開(kāi)裂,最終導(dǎo)致焊盤(pán)被拉斷失效。

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圖7.QFN器件引腳焊點(diǎn)焊盤(pán)斷開(kāi)過(guò)程示意圖

6.總結(jié)與建議

總結(jié):FPC焊盤(pán)脫落的原因?yàn)榛亓骱附雍?,焊點(diǎn)受到較大外力影響導(dǎo)致焊點(diǎn)沿焊接強(qiáng)度薄弱位置開(kāi)裂,最終導(dǎo)致焊盤(pán)被連帶拉斷。

建議:焊接完成后排查各個(gè)工站樣品受力情況,避免較大外力作用于產(chǎn)品表面。


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