








在程序升溫(動(dòng)態(tài)熱)和恒定負(fù)載下,材料因熱膨脹系數(shù)不均、內(nèi)應(yīng)力釋放或?qū)Σ牧显跓嶝?fù)荷下三維形變行為進(jìn)行可視化與量化分析的高階測(cè)試方法。直接觀(guān)測(cè)并記錄材料表面在升溫過(guò)程中的全域翹曲形態(tài)變化、結(jié)構(gòu)失穩(wěn)導(dǎo)致的三維空間形變,表現(xiàn)出的曲面翹曲、邊緣卷曲等復(fù)雜形態(tài)。

| 項(xiàng)目概述
在程序升溫(動(dòng)態(tài)熱)和恒定負(fù)載下,材料因熱膨脹系數(shù)不均、內(nèi)應(yīng)力釋放或?qū)Σ牧显跓嶝?fù)荷下三維形變行為進(jìn)行可視化與量化分析的高階測(cè)試方法。直接觀(guān)測(cè)并記錄材料表面在升溫過(guò)程中的全域翹曲形態(tài)變化、結(jié)構(gòu)失穩(wěn)導(dǎo)致的三維空間形變,表現(xiàn)出的曲面翹曲、邊緣卷曲等復(fù)雜形態(tài)。
| 測(cè)試目的
可以通過(guò)程序升溫,測(cè)量PCB板的如下參數(shù):
1. 最大位移量
2. 翹曲角
3. 平面度偏差
4. 曲率半徑
5. 全域3D形貌。
| 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
IPC-TM-650 2.4.22:印制板熱翹曲測(cè)試方法;
JEDEC JESD22-B113:電子元件封裝翹曲度測(cè)量;
IPC-TM-650 2.4.22.2:PCB熱翹曲的云紋測(cè)量法 ;
JEDEC JESD22-B112B-2018表面貼裝集成電路在高溫下的封裝翹曲測(cè)量等。
| 服務(wù)產(chǎn)品/領(lǐng)域
電子封裝、高分子材料開(kāi)發(fā)、新能源材料等。
| 美信優(yōu)勢(shì)
1、專(zhuān)業(yè)團(tuán)隊(duì):擁有多名經(jīng)驗(yàn)豐富的檢測(cè)工程師和技術(shù)專(zhuān)家。
2、先進(jìn)設(shè)備:配備國(guó)際領(lǐng)先的檢測(cè)設(shè)備,確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。全域可視化與精準(zhǔn)量化、非接觸、全場(chǎng)、微米級(jí)分辨率。
3、高效服務(wù):快速響應(yīng)客戶(hù)需求,提供一站式高效檢測(cè)服務(wù)。
4、權(quán)威認(rèn)證:實(shí)驗(yàn)室通過(guò)ISO/IEC 17025認(rèn)證,檢測(cè)報(bào)告具有國(guó)際公信力。